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时序和布局约束是实现设计要求的关键因素。本文是介绍其使用方法的入门读物。完成RTL设计只是FPGA设计量产准备工作中的一部分。接下来的挑战是确保设计满足芯片内的时序和性能要求。为此，您经常需要定义时序和布局约束。我们了解一下在基于赛灵思FPGA和SoC设计系统时如何创建和使用这两种约束。时序约束 基本的时序约束定义了系统时钟的工作频率。然而，更 的约束能建立时钟路径之间的关系。
人们常常忽略了它并非一个神奇实体的事实：旁路元件上的电压会降低，并逐渐升温。，如果中的电路有100毫安的恒定负荷，则可以将其简化并模拟用于所示的热目的。当输入电压为5V，输出电压和功率分别为3.3V和100mA时，旁路元件耗散的功率将达到170MW。那么，如果输入电压为24伏时，会发生怎样 mA=2.07瓦。显然，这样的功率可能会使150毫安的微型稳压器产生过多的热量。
在实际使用中，由于尘土、油污及有害气体的影响，使用时间一长，会产生老化，精度下降，湿度传感器的精度水平要结合其长期稳定性去判断，一般说来，长期稳定性和使用寿命是影响湿度传感器质量的头等问题，年漂移量控制在1%RH水平的产品很少，一般都在±2%左右，甚至更高。湿度传感器的温度系数湿敏元件除对环境湿度敏感外，对温度亦十分敏感，其温度系数一般在0.2~0.8%RH/℃范围内，而且有的湿敏元件在不同的相对湿度下，其温度系数又有差别。
当然这两大项中又包括许多小项目，EMI主要测试项：RE（产品辐射，发射）、CE（产品传导干扰）、Harmonic（谐波）、Ficker（闪烁）。EMS主要测试项：ESD（产品静电）、EFT（瞬态脉冲干扰）、DIP（电压跌落）、CS（传导抗干扰）、RS（辐射抗干扰）、Surge（雷击）、PMS（磁场抗扰）。通过这些测试项目我们不难看出EMC测试主要围绕产品的电磁干扰和敏感度两部分，如果一旦产品不符合安全认证标准需要EMC整改的时候我们可以通过降低其材料和零部件进行整改。
每一种测量模式是怎么计算的，如何应用，本文将进行详细说明。RMS（真有效值）真有效值简单而言即代表一交流电相当于多大数值的直流电在单位时间内所的功，真有效值为10V的交流电与10V的直流电对相同的负载在相同的时间下所的功相同。举个例子来说有一组100伏的电池组，每次供电10分钟之后停10分钟（模拟出交流信号），如果这组电池带动的是10Ω电阻，供电的10分钟内，产生的电流I=U/R=10A，功率P=U*I=1000W的功率，停电时电流和功率为零,那么在20分钟的其平均功率为500W。
X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。
流量测量技术它与传统意义上度量衡计量器具的应用有很大差别，它不是简单地将流量计好，表投运就一定能达到测量目的。曾经有两位 对现场装用着地千余台流量仪表进行 ，发现约有60％所选择地测量方法不是 合适或不正确，其余地40％中，约有一半虽然测量方法合适，却存在现场布置和地不合理现象，这些不合适、不正确和不合理，带来了相应地测量误差。因此流量测量是一种强烈依赖于使用条件地测量，在实验室，流量计可以得到极高地度，但是在使用现场，一旦流体条件或环境条件有大的变化，不仅度无法保证，甚至无法进行正常测量。